UNOi Jornada Tecnica: «Nuevas tecnologías aplicadas a los procesos de selección de personal»

Jun 20, 2017 | General

UNOi (Unidad de Orientación Empresarial en Innovación), con la colaboración de la Confederación Empresarial Valenciana (CEV) han organizado la Jornada técnica:

NUEVAS TECNOLOGÍAS APLICADAS A LOS PROCESOS DE SELECCIÓN DE PERSONAL

Que se celebrará en la Ciudad Politécnica de la Innovación (Edif. 8B Cubo Azul), el próximo 22 de junio a las 9:00 horas.

La evaluación de las aptitudes y capacidades horizontales de un candidato son las que, en los últimos tiempos, más interés están generando entre las personas dedicadas a la selección de personal. En este campo, los avances en Neurociencia y las nuevas tecnologías están provocando la aparición de nuevas herramientas que, de forma objetiva, evalúan prácticamente on-line las aptitudes de los diferentes candidatos e incluso aplican, de forma personalizada, planes específicos de mejora, como por ejemplo en temas de liderazgo.

También, se aprovechará la jornada para visitar los laboratorios de investigación, en los que se ha cimentado el conocimiento científico acerca de la neurociencia, las tecnologías y metodologías que se utilizan para hacer medible el comportamiento humano.

La asistencia a la jornada es gratuita, aunque las plazas son limitadas por riguroso orden de inscripción. Para inscripciones pulsar aquí

 

Artículos recientes

11º Newsletter: RegioGreenTex Stories – Peignage Dumortier

ATEVAL | 11º Newsletter RegioGreenTEX RegioGreenTex presenta RGT Stories, una serie de entrevistas para descubrir el corazón y el alma de las PYME de RegioGreenTex. Para nuestro boletín de junio, nos reunimos con Cédric Auplat, Presidente de Peignage Dumortier, una de...

Bases y Convocatoria «XVI EDICIÓN PREMIOS LLUM 2024»

ATEVAL | XVI EDICIÓN PREMIOS LLUM 2024 La Confederación Empresarial de la Comunitat Valenciana (CEV), convoca la XVI edición de los Premios Llum en reconocimiento a la gestión preventiva que las empresas realizan mediante la implantación de sistemas y medidas de...